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闳康技术检测(上海)有限公司闳康技术检测(上海)

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高温老化测试系统

  • 制造厂商:MCC
  • 购置日期:2016-02-22
  • 型号:LC-2 H1
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 集成电路芯片老化测试
  • 主要附件: 无
  • 主要技术指标: Total-32 Slots 256 I/O
  • 技术特色: Total-32 Slots 256 I/O