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中国科学院上海应用物理研究所中科院上海应用物理研究所

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太赫兹时域光谱及成像装置

  • 制造厂商:Advantest
  • 购置日期:2000-01-01
  • 型号:TAS7400TS
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 可用于材料的无损检测,药物晶体结构和晶相转变,分子间相互作用研究,材料界面水研究等
  • 主要附件: 无
  • 主要技术指标: 1、频谱范围:0.5-7THz 2、动态范围:>60dB 3、频谱分辨率:1.9GHz 4、成像分辨率:200 μm 5、测量模式:透射/反射/全反射
  • 技术特色: