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分析型透射电子显微镜
- 制造厂商：日本电子株式会社
- 购置日期：2005-03-08
- 型号：JEM-2010
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 显微结构分析：多晶-晶粒形貌、大小(粉料样品颗粒要求小于1μm)；单晶-晶体缺陷；薄膜-晶界、界面结构； 非晶-分相
- 主要附件： 单倾样品杆，双倾样品杆，铍双倾杆
- 主要技术指标： 加速电压:200kv 点分辨率:0.25nm,晶格分辨率:0.14nm， 样品倾斜角： X±34°; Y±34°
- 技术特色： 高亮度且相干性好；分辨率高，广泛用于物质结构像的拍摄；倾转角大，便于进行电子衍射、衍衬分析
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