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原子力显微镜

  • 制造厂商:Agilent
  • 购置日期:2011-04-05
  • 型号:5500AFM/SPM
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: AFM主要用于具有可接触性平整表面的样品表面形貌及相态特征的研究,还可对样品进行力曲线/力谱等测量。此AFM采用低干涉技术,可明显减弱激光对成像系统的影响,极大地提高图像的真实性,可适用于AFM的多模式成像(最常用为接触模式、间歇性接触模式)。并具有开放式的样品台,可以方便用户根据自己的实验需求在样品台上做更多的改动。另外,在薄膜、溶液成像方面有很强的优势。
  • 主要附件: 无
  • 主要技术指标: 1. 多用途低干涉小范围扫描头(Type-A)扫描范围:水平方向9μm,垂直方向2μm。噪音水平:Z向少于0.1nmRMS,XY向少于1nmRMS 扫描器控制电压分辨率:+/- 215V/24bit 2. 多用途大范围低干涉扫描头(Type-B)扫描范围:水平方向90μm,垂直方向7μm 噪音水平:Z向少于1nmRMS,XY向少于1nmRMS 扫描器控制电压分辨率:+/- 215V/24bit
  • 技术特色: