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透射电子显微镜

  • 制造厂商：jeol
  • 购置日期：2012-05-04
  • 型号：JEM-ARM200F
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仪器分类

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仪器详情
  • 功能/应用范围： 原子级超高分辨率，TEM Cs Corrector，配有EDX及EELS附件，用于成分分析。
  • 主要技术指标： 点分辨率0.11nm，晶格分辨率0.072nm，光束漂移小于1nm/min，样品漂移小于0.5nm/min，球差矫正系数C3<±5微米，EELS能量分辨率<0.7eV