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上海交通大学交大

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原子力显微镜

  • 制造厂商：Bruker Demension Icon
  • 购置日期：2014-01-20
  • 型号：Demension Icon
  • 生产国别：美国
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仪器分类

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仪器详情
  • 功能/应用范围： 准确观测样品表面微区(纳米及亚微米尺度)三维形貌；同时可对样品表面物理化学特性进行研究，即摩擦性能、材料表面粘弹性、材料表面粗糙度、材料导电性能表征及纳米操纵等。
  • 主要技术指标： 1.XY方向扫描范围90um×90um，Z方向扫描范围10um，XY全范围运动最大高度起伏低于4nm； X-Y axis scanning range 90um×90um,Z-axis scanning range 10um, XY scanning maximum height variation is lower than 4nm; 2.智能自动进针方式； Auto probe; 3.210mm真空吸附全自动样品台，可程序化控制； 210mm auto specimen stage with vacuum absorption; 4.配置接触模式、轻敲模式、相位成像模式、压电响应测试模式、横向力/摩擦力测试模式、扫描隧道显微镜、智能扫描模式； Scanning mode: Contact mode, Tapping mode, Phaseimaging, Piezo Response Force Modulation (PFM), Lateral Force Microscopy (LFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM), ScanAsyst mode; 5.样品台：210mm真空吸附全自动样品台，可程序化控制； 210mm auto specimen stage with vacuum adsorption; 6.导电AFM:通过测量电流对导体的导电性及完整性的变化进行成像； Conductive Atomic Force microscopy: imaging of conductivity difference by testing specimen current can check the integrality of conductor material; 7.可实现程序控制的纳米刻蚀功能，工业标准的C++编译软件； Provide nanofabrication process, the industry standard C++ software; 8.提供-35℃至250℃成像功能。 Provide -35℃ to 250℃ imaging.