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扫描式电子显微镜
- 制造厂商：日本日立
- 购置日期：2012-01-19
- 型号：Hitachi S3400N
- 生产国别：日本
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- 功能/应用范围： 材料的表面形貌观察，成分以及晶粒尺寸取向分析
- 主要附件： 能谱仪EDS
背散射衍射EBSD
- 主要技术指标： 二次电子（SE）分辨率：3.0nm (30kV)，高真空模式；10nm (3kV)，高真空模式。
背散射电子（BSE）分辨率：4.0nm (30kV)，低真空模式。
放大倍率：×5 ~ × 300,000。
加速电压 0.3 ~ 30 kV 。
低真空范围：6 ~ 270 Pa。
最大样品尺寸与高度：直径200mm； 80mm（工作距离（WD）=10mm）。
探测器：二次电子探测器、高灵敏度固定背散射电子检测器。
多种控制方式：鼠标、键盘，轨迹球，旋钮板。
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