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精密光斑分析系统
- 制造厂商：Stanford Instruments
- 购置日期：2018-10-18
- 型号：PLBS-OPA-2015
- 生产国别：美国
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- 功能/应用范围： 用于测量脉冲光的模场强度和相位分布，原理基于不同阶数的模场分布，干涉系统在CCD上共线或倾斜干涉形槽干涉条纹来检验模场的相位特性，利用旋转起偏器检测模场的空间偏振特性。
包括了空间光路的干涉系统、空间光相位调制模块及CCD显示模块。空间光路的光学干涉系统类似于迈克尔逊干涉仪的结构，入射光脉冲经分束片分为两束光，然后分别经两棱镜反射后再次共轴输出，共线型干涉，通过对一路的延迟控制，实现光脉冲的时间上重合，空间上模场重叠干涉，具有高分辫率、高灵敏度和使用方便等优点。
- 主要技术指标： 主要指标包括：
CCD响应波长： 950-1700nm
探测器类型： InGaAs
有效像素： 320*256
空间相位调制波长： 1400-1700nm
调制类型：反射性相位
最大延迟时间： 600ps
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