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X射线荧光镀层厚度测量仪
- 制造厂商：FISCHER INSTRUMENTATION LTD.
- 购置日期：2009-06-25
- 型号：XAN-FD
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 贵金属元素Au/Ag/Pt/Rh/Pd，金属元素Ni等的镀层厚度的测试与分析
- 主要附件： -
- 主要技术指标： 分析元素范围 Al-U
分辨率 达到180eV
最多24层不同元素
测试厚度精度可达0.01微米
- 技术特色： 金属材料、贱金属首饰上的贵金属材料镀层厚度
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