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透射电子显微镜
- 制造厂商：JEOL
- 购置日期：2009-09-14
- 型号：JEM2100
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： JEM-2100透射电镜应用领域广泛，适用于材料科学、纳米科学和生命科学。可用于材料的微观结构分析，包括普通透射（形貌观察）、高分辨透射（形貌观察）、X射线能谱（元素分析）、选区电子衍射（晶体结构分析）等。
以下材料来样拒绝受理：1）低熔点的材料（如：铟，锡，镓等，会产生相变及蒸镀效应）；2）在电子束照射下会分解或释出气体的样品（如有机物、高分子等，会污染真空系统）；3）具有强磁性或易被电磁透镜吸引的粉末型式样品或材料；4）未经正确处理或充分干燥的粉末样品。
- 主要附件： 牛津能谱、奥林巴斯CCD
- 主要技术指标： 电子枪： LaB6（六硼化镧）
点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压： 200kV
束斑尺寸：1.0-25 nm
放大倍数（高倍）：2000-1,500,000
放大倍数（低倍）：50-6,000
倾斜角：±35°
- 技术特色： 无
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