检测能力

• IC晶圆测试 | IC Wafer Probe 212.0
  能力名称：IC晶圆测试 | IC Wafer Probe

  一级类别：晶圆测试 | Wafer Testing

  二级类别：芯片晶圆测试 | IC Wafer Probe

  标准名称/编号：/

  限制说明：IC晶圆测试 | IC Wafer Probe

  计量单位：小时 | hour
• IC晶圆打点 | MEMS Wafer Dotting 212.0
  能力名称：IC晶圆打点 | MEMS Wafer Dotting

  一级类别：晶圆测试 | Wafer Testing

  二级类别：芯片晶圆测试 | IC Wafer Probe

  标准名称/编号：/

  限制说明：IC晶圆打点 | MEMS Wafer Dotting

  计量单位：小时 | hour
• 模拟/混合芯片晶圆测试 | Analog and mixed signal IC Wafer 212.0
  能力名称：模拟/混合芯片晶圆测试 | Analog and mixed signal IC Wafer

  一级类别：晶圆测试 | Wafer Testing

  二级类别：芯片晶圆测试 | IC Wafer Probe

  标准名称/编号：/

  限制说明：模拟/混合芯片晶圆测试

  计量单位：层 | Layer
• IC晶圆测试工程费用 | MEMS Wafer Probe NRE 21200.0
  能力名称：IC晶圆测试工程费用 | MEMS Wafer Probe NRE

  一级类别：晶圆测试 | Wafer Testing

  二级类别：芯片晶圆测试 | IC Wafer Probe

  标准名称/编号：/

  限制说明：IC晶圆测试工程费用 | MEMS Wafer Probe NRE

  计量单位：套 | Case