一、会议组织

时 间： 2016年5月27日 下午13:00 ~ 16:00

地 点：上海市嘉定区平城路1455号新微大厦A座2楼 （上海地铁11号线嘉定北站1号口出）

主 办： 嘉定区菊园新区管理委员会

上海市研发公共服务平台管理中心

苏州市生产力促进中心

承 办：上海微技术工业研究院（上海新微技术研发中心有限公司）

上海牵翼网络科技有限公司

指导单位：上海市科学技术委员会

嘉定区科学技术委员会

苏州市科学技术局

合作媒体：人民网、上海科技报、华东科技

二、会议议程

与会签到 13:00-13:30

主持人：朱佳骐 ——上海微技术工业研究院 产业合作副总裁

13:30-13:50 嘉定菊园科技研发资源开放日系列活动启动仪式

13:50-14:00 上海牵翼网仪器在线检测服务介绍

——刘慧伟 上海牵翼网络科技有限公司 总经理

14:00-16:00 上海微技术工业研究院开放日

——张文燕 上海微技术工业研究院 工程服务总监

1.上海微技术工业研究院 机构简介

2.主题演讲：

“超越摩尔”工程技术服务平台及当前技术热点应用

（1）半导体产品工艺分析及电路分析的主要方法和步骤

（2）Samsung S7拆解分析报告分享

（3）MEMS传感器发展现状及制约因素

（4）建立IGBT测试平台对汽车电子的意义

（5）“超越摩尔”技术服务平台设计服务和知识产权服务介绍

3.交流与参观：

（1）提问答疑、互动交流

（2）开放考察参观工研院（SITRI）展厅及特定实验室

三、报名方式

此次交流活动针对业内专业人士开放，限额30名（每家企业限额2人），报满即止。（5月25日截止报名）

报名方式1、请参会人员填写单位名称、参会人员、联系信息等，邮件反馈至牵翼邮箱 service@qwings.cn。

报名方式2、在线报名链接：http://px.sgst.cn

请参会人员通过在线报名(推荐)/致电研发平台科技114服务热线，报名登记成功后将收到系统确认短信。研发平台科技114服务热线：800-820-5114、400-820-5114(手机用户)

四、项目介绍

1.  半导体产品工艺分析及电路分析的主要方法和步骤

2.  Samsung S7拆解分析报告分享

3.  MEMS传感器发展现状及制约因素